מיקרוסקופ אלקטרונים חודר (TEM) עם מקור אלקטרונים LaB6 המיקרוסקופ עובד במתח גבוה של 120/200KeV ומצויד בגלאי DF ו- BF,מערכת EDS לניתוח הרכב כימי של חומרים ובמצלמה ברזולוציה של 1KX1K.
Installed August 2006A 200KeV (or 120KeV) TEM with a LaB6 electron source and an FEI Supertwin Objective Lens. This microscope is also equipped with a BF and DF STEM detectors, an EDS detector, a plate camera and a 1Kx1K Gatan 694 retractable slow scan CCD.
| Specification | Value |
| TEM point resolution | < 0.24 nm |
| Cs value | 1.2 mm |
| STEM resolution | < 1 nm |
| EDS resolution | 132 eV |
contact person: Dr. Yaron Kauffmann and Dr. Galit Atiya
