FEI Tecnai G2 T20 S-Twin TEM

מיקרוסקופ אלקטרונים חודר (TEM) עם מקור אלקטרונים LaB6  המיקרוסקופ עובד במתח גבוה של 120/200KeV ומצויד בגלאי DF ו- BF,מערכת EDS לניתוח הרכב כימי של חומרים ובמצלמה ברזולוציה של 1KX1K.


Installed August 2006A 200KeV (or 120KeV) TEM with a LaB6 electron source and an FEI Supertwin Objective Lens. This microscope is also equipped with a BF and DF STEM detectors, an EDS detector, a plate camera and a 1Kx1K Gatan 694 retractable slow scan CCD.


Specification Value
TEM point resolution < 0.24 nm
Cs value 1.2 mm
STEM resolution < 1 nm
EDS resolution 132 eV


contact person: Dr. Yaron Kauffmann and Dr. Galit Atiya