מעבדת פני שטח הינה מרכז למחקר ואפיון פני שטח של חומרים מגוונים. מהיווסדה, בשנת 1980, המעבדה תרמה למחקר של אלפי קבוצות באקדמיה וקבוצות מחקר ופיתוח בתעשייה בתחומים רבים כגון: הנדסת חומרים, כימיה, פיזיקה, מיקרואלקטרוניקה וננו-חלקיקים.
המעבדה מצוידת בשתי מערכות לאפיון פני שטח:
- XPS ספקטרוסקופיה פוטו-אלקטרונים בעזרת קרני X – XRay Photoelectron Spectroscopy
- TOFSIMS – ספקטרוסקופיה מסה של יונים משניים בעזרת מדידת זמן מעוף
אחראי אקדמאי: פרופ׳ א. רוטשילד