ספקטרומטריית מסות של יונים משניים בזמן מעוף (ToF SIMS)
איש קשר: ד"ר שאול מיכלסון
טלפון: +972-4-829-3148
דוא״ל: mshaul@si.technion.ac.il
מעבדת מדעי השטח מצוידת במכשיר ToF SIMS 5 של חברת IONTOF (גרמניה).
ספקטרומטריית מסות של יונים משניים בזמן מעוף (ToF SIMS) היא טכניקת אנליזה רגישה במיוחד לפני שטח, המיושמת באופן נרחב בתחומים מחקריים ותעשייתיים. הטכניקה מספקת מידע כימי מפורט – הן ברמה יסודות כימיים והן ברמה המולקולרית – של השכבה האטומית העליונה (monolayer), שכבות דקות, ממשקים, וכן פרופילים ודימות תלת-ממדיים מלאים של הדגימה.
המכשיר כולל מערכת הנעת דגימות מדויקת וגמישה, וכן מערכת פיצוי (ניטרול) מטען מרחבי מושלמת, המאפשרות ניתוח של כמעט כל סוגי החומרים – כולל מוליכים, מבודדים, פולימרים, ננו-חלקיקים, חומרים ביולוגיים, תרופות, מתכות, קרמיקות ועוד.
תכונות עיקריות:
- זיהוי יסודות כימיים ומולקולות (כולל מימן), ברגישות גבוהה (עד לרמות של ~1 חלק למיליון).
- טווח מסות רחב עם אפשרות לזיהוי בו-זמני של יונים שונים – אורגניים ואנאורגניים – ומתן אפשרות לביצוע ניתוח חוזר של הנתונים בדיעבד
- רזולוציית מסה גבוהה מאוד(M/ΔM > 8000) כולל חומרים מבודדים.
- רזולוציה מרחבית גבוהה (החל מ-1 מיקרון), עם שדה ראייה שנע 20×20 µm2 ל- 500×500 µm2.
- רזולוציית עומק של כ-1 ננומטר
- קצב חפירה של עד 10 מיקרון לשעה.
- תוכנת עיבוד והדמיה תלת-ממדית.
- אפשרות לקירור הדגימה עד ל-150 K או לחימום עד ל-900K בזמן אמת (in-situ)