המרכז למיקרוסקופיית אלקטרונים (מיק”א)

המרכז למיקרוסקופית אלקטרונים מאפשר אפיון מיקרומבני ומיקרוכימי של חומרים, ומשרת מדענים בטכניון, מכוני מחקר ישראליים ואת התעשייה הישראלית. בנוסף לאספקת מתקני מיקרוסקופיה למחקר ופיתוח, סטודנטים לתואר ראשון ולתארים מתקדמים כאחד לומדים לתפעל ולנצל את הציוד המגוון לאפיון חומרים.

סטודנטים לתואר ראשון משתמשים בציוד שבמרכז במסגרת המעבדה המתקדמת לסטודנטים תחת הדרכתם של מפעילים מנוסים. סטודנטים לתארים מתקדמים עוברים הכשרה לתפעול עצמאי של כל הציוד, לשימוש בפרוייקטי המחקר שלהם.

המרכז למיקרוסקופיית אלקטרונים מתמקד בחמש טכניקות אפיון:

  • מיקרוסקופית אלקטרונים חודרת (TEM) הכוללת מיקרוסקופית אלקטרונים חודרת ברזולוציה גבוהה (HRTEM)
  • מיקרוסקופית אלקטרונים סורקת (SEM)
  • יישום של שיטות אנליטיות לאנליזה כימית במיקרוסקופ אלקטרונים
  • מיקרוסקופיה אופטית ממוחשבת
  • הכנת דגמים

מיקרוסקופית האלקטרונים החודרת כוללת שני מכשירים. הראשון הוא FEI Titan 80-300 KeV S/TEM שנרכש כחלק מהמכון לננוטכנולוגיה ע”ש ראסל-ברי. הטיטאן מצויד במונוכרומטור עבור רזולוציה אנרגטית של פחות מאלקטרון-וולט (80-300 kV), מתקן אברציות למערכת האובייקטיב, מסנן אנרגיה עם רזולוציה גבוהה עבור  אנליזות EELS מתקדמות, מערכת STEM בעלת רזולוציה גבוהה, הכוללת HAADF, מערכת EDS לניתוח כימי מקומי, ו-CCD עם סריקה איטית של 2Kx2K.

מיקרוסקופ האלקטרונים החודר השני הוא FEI Tecnai G2 T20 200 KeV S-Twin SEM/STEM, עם מקור אלקטרונים של LaB6. המיקרוסקופ מצויד גם בגלאי BF ו-DF, במערכת EDS, במצלמת לוח וב-CCD עם סריקה איטית של 1Kx1K.

מיקרוסקופית האלקטרונים הסורקת כוללת מכשיר FEI E-SEM Quanta 200 משולב עם גלאי EDS ו-WDS, ומכשיר SEM נוסף מסוג Leo Gemini 982 בעל רזולוציה גבוהה (HRSEM). המכשיר השני ממוקם במרכז וולפסון למדע ממשקי-ביניים.

המיקרוסקופיה האופטית כוללת שני מיקרוסקופי-אור מעולים, כל אחד מהם מחובר למצלמת CCD ולמחשב עבור ניתוח תמונה אוטומטי.

הכנת הדגמים, מרכיב חשוב מאוד בכל מעבדת מיקרוסקופיה, כוללת מסורי יהלום, מערכות ליטוש ע”י יהלומים, מלטשת גומה, מכשירי חיתוך אולטרה-סוניים, מערכות דיקוק אלקטרו-כימיות, מנדפות זהב ופחמן, שתי מלטשות יוניות, מערכת לליטוש יוני מדוייק, מנקה פלזמה ו- ultramicrotome קריוגני.

עמוד הבית של המרכז למיקרוסקופיית אלקטרונים

רישום למיקרוסקופיה